SPIE Русский Українська English            VK
   


Контроль якості зображення об'єктивів : монографія Уклад. : О. К.Кучеренко. – Київ : КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2020.– 85с.

Розглянуто характеристики і критерії якості зображення об'єктивів. Запропоновані схеми установок для вимірювання визначених характеристик. Більш детально розглянуті проблеми з якими можуть стикатися розробники установок для контролю якості об’єктивів та запропоновані шляхи їх вирішення. Значна увага приділена похибкам установок для оцінки якості зображення об'єктивів. Для наукових та інженерно-технічних працівників, студентів спеціальності: 151 «Автоматизація та комп'ютерно-інтегровані системи та технології» освітньо-професійної програми « Комп'ютерно-інтегровані оптико- електронні системи та технології»

Завантажити...