SPIE Русский Українська English
 

Сокуренко Вячеслав Михайлович.
Kандидат технічних наук, доцент, доцент кафедри.

Закінчив в 1995 році приладобудівний факультет Київського політехнічного інститута. В 2001 р. захистив кандидатську дисертацію за спеціальністю 05.11.07 "Оптичні прилади і системи". У 2003 р. отримав звання доцента.

Напрямок наукової діяльності - автоматизація проектування оптичних систем, офтальмологічна апаратура.

Автор більш 40 наукових статей, 35 тез конференцій, 18 патентів на винаходи та корисні моделі, 2 методичних розробок та одного навчального посібника, програмного пакета "Абер" .

Дисципліни:
  • Оптико-електронні прилади.
  • Медичні оптичні та оптико-електронні прилади.
  • Теорія і розрахунок оптико-електронних приладів
  • Офтальмологічні прилади.
    • Публікації:
  • В. М. Сокуренко, Г. С. Тимчик, І. Г. Чиж Око людини та офтальмологічні прилади: навч. посіб.– К.: НТУУ «КПІ», 2009. – 264 с
  • V. M. Sokurenko, V. V. Molebny. Damped least-squares approach for point-source corneal topography. // Ophthalmic and Physiological Optics. – 2010. – Vol. 29, No. 3. – P. 330-337.
  • V.V. Molebny, I. G. Pallikaris, L. P. Naoumidis, I. H. Chyzh, S. V. Molebny, V. M. Sokurenko. Retina ray-tracing technique for eye-refraction mapping // SPIE Proceeding. - 1997. - Vol. 2971. - P. 175-183.
  • V. V. Molebny, I. H. Chyzh, V. M. Sokurenko, S. V. Molebny, I. G. Pallikaris, L. P. Naoumidis. Phase-transparency model of an eye optical system // SPIE Proceeding. - 1997. - Vol. 3192. - P. 233-242.
  • V. V. Molebny, I. H. Chyzh, V. M. Sokurenko, I. G. Pallikaris, L. P. Naoumidis, Eye aberrations analysis with Zernike polynomials // SPIE Proceeding. - 1998. - Vol. 3246. - P. 228-237.
  • V. Molebny, I. Pallikaris, S. Panapogoulou, I. Chyzh, V. Sokurenko. Eye refraction distribution: studies with Tracey-1 // Physiological Optics. Topical Meetings Digest Series. – 1999. – Vol. 23. – P. 51-52.
  • I. H. Chyzh, V. M. Sokurenko. Accuracy of modal wavefront estimation from eye transverse aberration measurements // SPIE Proceeding. - 2001. - Vol. 4156. - P. 338-345.
  • I. H. Chyzh, V. M. Sokurenko, I. Y. Osipova. Influence of eye micromotions on spatially resolved refractometry // Proc. of SPIE. – 2001. – Vol. 4156. – P. 346-354.
  • Порев В. А., Чиж И. Г., Сокуренко О. М., Сокуренко В. М. Методика расчета оптических систем в области аберраций третьего порядка // Оптический журнал. -1999. - №10. - С. 87-91.
  • Сокуренко О. М., Сокуренко В. М. Програма "PWC" для автоматизованого абераційного синтезу панкратичних оптичних систем // Вимірювальна та обчислювальна техніка в технологічних процесах. - 1999. - №1. - С. 39-42.
  • Чиж І. Г., Сокуренко В. М. Методы измерения рефракции глаза с пространственным разрешением по зрачку // Оптический журнал. -2001. - №3. - С. 19-25.
  • Сокуренко В.М., Фролова Т.С. Рефрактометр ока. Патент України № 43980 2010р. Заявник НТУУ «КПІ»
  • Molebny V., Pallikaris I., Chyzh I., Sokurenko V., Naoumidis L., Wakil Y. US Patent 6,932,475. - Device for measuring aberration refraction of the eye. - 2002.
  • Молебний В. В., Чиж І. Г., Сокуренко В. М., Наумідіс Л., Палікаріс І. Патент № 46833 України.- Вимірювач абераційної рефракції ока. - 1998.
  • Чиж І. Г., Сокуренко В. М. Патент № 47531 України. - Вимірювач рефракції ока з просторовим розрізненням. - 2000.
  • Чиж І. Г., Сокуренко В. М. Патент № 54570 України. -Вимірювач рефракції ока з просторовим розділенням. -2000.
  • Методичні вказівки до виконання атестаційної роботи для студентів напряму 0911 "Лазерна та оптоелектронна техніка" / Укладачі: В. Г. Колобродов, І. В. Кравченко, Л. А. Міхеєнко, В. М. Сокуренко. - К.: ІВЦ "Видавництво "Політехніка"", 2003. - 20 с.
  • Програма автоматизованого аналізу оптичних систем "Луч": Методичні вказівки до виконання розрахунків оптичних систем у курсових та дипломних проектах для студентів спеціальності 7.091101 "Лазерна та оптоелектронна техніка" / Укладач В. М. Сокуренко. - К.: Видавництво "Поліграфіст", 2003. - 28 с.
    • Персональна сторінка на порталі "Інтелект" електронного кампуса НТУУ"КПІ":
    http://intellect.ooep.kpi.ua/profile/svm43