SPIE Русский Українська English
 

Чиж Ігор Генріхович.
Доктор технічних наук, професор, професор кафедри.

Закінчив приладобудівний факультет Київського політехнічного інститута. В 1983 р. захистив кандидатську дисертацію за спеціальністю 05.11.07 "Оптичні прилади і системи". В 2006 р. захистив докторську дисертацію за спеціальністю 05.11.07 "Оптичні прилади і системи".

Напрямок наукової діяльності - проектування оптичних систем, офтальмологічне приладобудування, офтальмологічна аберометрія ока.
Автор 105 опублікованих наукових праць.

Керівник проекту Oфтальмологічне приладобудування.
 Ведуться роботи з оптометрії, аберометрії оптичної системи ока, кераторефрактометрії, в рамках яких розробляються рейтресінговий метод аберометрії оптичної системи ока, метод точкової топографії передньої поверхні рогівки ока, рейтресінговий офтальмологічний аберометр, фундус камери.
Створений рейтресінговий аберометр не має аналогів у світі.

Дисципліни:
  • Теорія оптичних систем.
  • Проектування оптичних систем.
    • Наукові публікації:
  • Аберометрія оптичної системи ока людини: моногр. / І.Г. Чиж,Г.С. Тимчик, Т.О. Шиша–К.:НТУУ «КПІ», 2013. – 292 с.
  • I.H.Chyzh, N.B. Afonchyna, T.M.Yakimenko. The algorithm of the wave aberration function recovery from images of pupil isodiopter zones // 5th European Meeting on Visual and Physiological Optics (EMVPO) 22-24 August 2010, Royal Institute of Technology, KHT, AlbaNova, Stockholm, Sweden
  • I.H.Chyzh, T.O. Shysha. Simulation of aberrations of an optical system of the human eye // 5th European Meeting on Visual and Physiological Optics (EMVPO) 22-24 August 2010, Royal Institute of Technology, KHT, AlbaNova, Stockholm, Sweden
  • V.V. Molebny, I. G. Pallikaris, L. P. Naoumidis, I. H. Chyzh, S. V. Molebny, V. M. Sokurenko. Retina ray-tracing technique for eye-refraction mapping // SPIE Proceeding. - 1997. - Vol. 2971. - P. 175-183.
  • V. V. Molebny, I. H. Chyzh, V. M. Sokurenko, S. V. Molebny, I. G. Pallikaris, L. P. Naoumidis. Phase-transparency model of an eye optical system // SPIE Proceeding. - 1997. - Vol. 3192. - P. 233-242.
  • V. V. Molebny, I. H. Chyzh, V. M. Sokurenko, I. G. Pallikaris, L. P. Naoumidis, Eye aberrations analysis with Zernike polynomials // SPIE Proceeding. - 1998. - Vol. 3246. - P. 228-237.
  • V. Molebny, I. Pallikaris, S. Panapogoulou, I. Chyzh, V. Sokurenko. Eye refraction distribution: studies with Tracey-1 // Physiological Optics. Topical Meetings Digest Series. – 1999. – Vol. 23. – P. 51-52.
  • I. H. Chyzh, V. M. Sokurenko. Accuracy of modal wavefront estimation from eye transverse aberration measurements // SPIE Proceeding. - 2001. - Vol. 4156. - P. 338-345.
  • I. H. Chyzh, V. M. Sokurenko, I. Y. Osipova. Influence of eye micromotions on spatially resolved refractometry // Proc. of SPIE. – 2001. – Vol. 4156. – P. 346-354.
  • Порев В. А., Чиж И. Г., Сокуренко О. М., Сокуренко В. М. Методика расчета оптических систем в области аберраций третьего порядка // Оптический журнал. -1999. - №10. - С. 87-91.
  • Чиж І. Г., Сокуренко В. М. Методы измерения рефракции глаза с пространственным разрешением по зрачку // Оптический журнал. -2001. - №3. - С. 19-25.
  • Чиж І.Г. ГЛОБАЛЬНА АПРОКСИМАЦІЯ АБЕРАЦІЙНОЇ ФУНКЦІЇ ОПТИЧНОЇ СИСТЕМИ ОКА // Наукові вісті НТУУ КПІ. 2001.-№4.-С.127-135.
  • Чиж І.Г. МОНОХРОМАТИЧНІ АБЕРАЦІЇ ОПТИЧНОЇ СИСТЕМИ ОКА // Наукові вісті НТУУ КПІ. 2002.-№1.-С.98-103.
  • Чиж І.Г. ВИЗНАЧЕННЯ ВЕЛИЧИНИ АМЕТРОПІЇ ЗА ДОПОМОГОЮ ФУНКЦІЇ ХВИЛЬОВОЇ АБЕРАЦІЇ ОПТИЧНОЇ СИСТЕМИ ОКА // Наукові вісті НТУУ КПІ. 2002.-№2.-С.100-106.
  • Чиж І.Г. МОНОХРОМАТИЧНІ АБЕРАЦІЇ ОПТИЧНОЇ СИСТЕМИ ОКА // Наукові вісті НТУУ КПІ. 2002.-№3.-С.96-104.
  • Чиж І.Г. ВИЗНАЧЕННЯ ПРОСТОРОВО-РОЗДІЛЬНОЇ ЗДАТНОСТІ І ГЛИБИНИ ФОКУСНОЇ ОБЛАСТІ ОПТИЧНОЇ СИСТЕМИ ОКА ЧЕРЕЗ РАДІУСИ ДРУГИХ ГАУССОВИХ МОМЕНТІВ ВІД ФУНКЦІЇ РОЗСІЮВАННЯ ТОЧКИ // Наукові вісті НТУУ КПІ. 2005.-№1.-С.75-88.
  • Molebny V., Pallikaris I., Chyzh I., Sokurenko V., Naoumidis L., Wakil Y. US Patent 6,932,475. - Device for measuring aberration refraction of the eye. - 2002.
  • Молебний В. В., Чиж І. Г., Сокуренко В. М., Наумідіс Л., Палікаріс І. Патент № 46833 України.- Вимірювач абераційної рефракції ока. - 1998.
  • Чиж І. Г., Сокуренко В. М. Патент № 47531 України. - Вимірювач рефракції ока з просторовим розрізненням. - 2000.
  • Чиж І. Г., Сокуренко В. М. Патент № 54570 України. -Вимірювач рефракції ока з просторовим розділенням. -2000.
    • Навчальні публікації:
  • Оптичні схеми і креслення оптичних елементів за міжнародним стандартом ISO10110: Методичні вказівки для студентів спеціальності 6.051004 "Оптотехніка" до виконання графічних матеріалів у курсових проектах за дисциплінами «Теорія оптичних систем», «Проектування оптичних систем», «Розрахунок і конструювання оптичних приладів», а також у дипломних проектах Уклад.: В.М. Тягур., І.Г. Чиж., О.К. Кучеренко - К.: НТУУ «КПІ», 2014, - 82 с.
    • Персональна сторінка на порталі "Інтелект" електронного кампуса НТУУ"КПІ":
    "http://intellect.ooep.kpi.ua/profile/hig1"